8.00 - 15.30
+36 22 200 096
semlabor@h-ion.hu
logo_sem_hu_v03logo_sem_hu_v03
  • Információk
    • A SEM szolgáltatásról
    • Esettanulmányok
    • ÁSZF
    • Házirend
  • Árajánlat kérés
  • Ügyfélfiók
    • Belépés
    • Kosár
  • Rólunk
    • Bemutatkozás
    • Befektetőknek
    • Karrier
    • Kapcsolat
  • HION.HU
  • Chemistry
  • EN
logo_sem_hu_v03
Close
  • Információk
    • A SEM szolgáltatásról
    • Esettanulmányok
    • ÁSZF
    • Házirend
  • Árajánlat kérés
  • Ügyfélfiók
    • Belépés
    • Kosár
  • Rólunk
    • Bemutatkozás
    • Befektetőknek
    • Karrier
    • Kapcsolat
  • HION.HU
  • Chemistry
  • EN

2020.11.19. 22265

Zeiss Sigma 300 FESEM

Field Emission Scanning Electron Microscope berendezésünk alkalmas különböző gyártási, vagy használatból fakadó hibák feltérképezésére, acél vagy egyéb fémek szövetszerkezetének elemzésére, polimerek, ásványtani minták, valamint bevonatok vizsgálatára akár 1 nanométeres felbontásig.

RészletekAnyagminta leadás

Aktuális állásajánlataink

SEM LaborvezetőKutatás-fejlesztést támogató technikus
hion_web_logo_footer_v07
H-ION | SEM Labor
8000 Székesfehérvár,
Seregélyesi út 113.
Főépület, földszint 3.

Navigáció indítása >
Elérhetőségeink
Telefon: +36 22 200 096
E-mail: semlabor@h-ion.hu
Ügyfélszolgálati idő: H-P 8.00-15.30

Menü
  • Kezdőlap
  • A SEM szolgáltatásról
  • Árajánlat kérés
  • ÁSZF
  • Házirend
  • Kapcsolat
© 2020 H-ION SEM Labor