Zeiss Sigma 300 FESEM

Field Emission Scanning Electron Microscope berendezésünk alkalmas különböző gyártási, vagy használatból fakadó hibák feltérképezésére, acél vagy egyéb fémek szövetszerkezetének elemzésére, polimerek, ásványtani minták, valamint bevonatok vizsgálatára akár 1 nanométeres felbontásig.